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進(jìn)口儀器
掃描電鏡
掃描電鏡

掃描電鏡

所屬分類:進(jìn)口儀器

發(fā)布日期:2024-05-06 10:26:07

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ZEISS的場發(fā)射掃描電鏡全部采用新型鏡筒(GEMINI)設(shè)計(jì),具有優(yōu)良的高、低加速電壓性能;InLens設(shè)計(jì)是目前真正的內(nèi)置鏡筒電子束光路上二次電子探測器,其具有靈敏度和高的接收效率,而且只接收來自樣品表面的二次電子,因此具有分辨率和圖像質(zhì)量,二次電子探測器和背散射電子探測器均內(nèi)置于鏡筒電子束光路上,試樣的工作距離不受背散射探測器的影響,可以非常接近極靴,這樣可以同時獲得二次電子像分辨率和背散射電子像分辨率,且接收的背散射電子的能量可以控制。創(chuàng)造性的采用電磁、靜電復(fù)合式物鏡,雜散磁場小,可對鐵磁體樣品進(jìn)行高分辨率成像。

SIGMA是一臺高性能、功能強(qiáng)大的高分辨應(yīng)用型掃描電子顯微鏡。系統(tǒng)采用多接口的大樣品室和藝術(shù)級的物鏡設(shè)計(jì),提供高真空成像功能,可對各種材料表面作分析。并且具有業(yè)界**的X射線分析條件,樣品臺為五軸全自動控制。標(biāo)準(zhǔn)的高效率無油渦輪分子泵滿足快速的樣品更換和無污染成像分析。

主要參數(shù):

1.   工作條件

1.1.      電源電壓:220V±10V, 單相 50Hz

1.2.      工作溫度:18°C~25°C

1.3.      接地:獨(dú)立的接地線

1.4.      儀器運(yùn)行的持久性:長時間連續(xù)工作

1.5.      磁場:≤ 3 mGauss

1.6.      濕度:≤ 60% RH

2.   性能

2.1.      分辨本領(lǐng)

二次電子像分辨率:

1.3nm (20 kV)   1.5nm (15 kV)   2.8nm (1kV)
 2.2.      電子源加速電壓:
調(diào)整范圍:100 V~30 kV   調(diào)整步長:每檔10 V連續(xù)可調(diào)

2.3.      探針電流:

4 pA~20 nA    穩(wěn)定性: 優(yōu)于 0.2%/h

2.4.      放大倍率:范圍: 12×~1000,000×

放大倍數(shù)調(diào)整:粗、細(xì)調(diào)模式連續(xù)可調(diào)

預(yù)設(shè)定:可從用戶菜單中選擇設(shè)定值

自動補(bǔ)償:隨著工作距離或加速電壓的變化,自動**校正放大倍數(shù)。

校準(zhǔn):對于圖像輸出裝置的改變,自動**校正放大倍數(shù)。

3.   電子光學(xué)系統(tǒng)

3.1.      電子發(fā)射源:Schottky型場發(fā)射(熱場發(fā)射)電子源

3.2.      透鏡系統(tǒng):電磁/靜電式透鏡會聚系統(tǒng)

3.3.      聚焦:工作距離:范圍可由1mm至50mm。

控制:具有靈敏度與放大倍數(shù)相關(guān)的粗調(diào)和細(xì)調(diào)。

自動聚焦控制:粗調(diào)、細(xì)調(diào)。

聚焦補(bǔ)償:在整個加速電壓變化范圍內(nèi),自動補(bǔ)償。

動態(tài)聚焦:對傾斜樣品進(jìn)行聚焦矯正。

旋轉(zhuǎn)補(bǔ)償:自動矯正由于工作距離的變化引起的圖像旋轉(zhuǎn)。

傾斜補(bǔ)償:自動矯正由于樣品傾斜引起的放大倍數(shù)變化。

3.4.      消像散器

八極電磁式系統(tǒng)

3.5.      光欄

數(shù)量:不少于 5個

調(diào)整:電磁選擇和軟件調(diào)整

3.6.      掃描

掃描速率:0.1秒/幀~30分/幀(或更寬)

掃描方式:全幀、選區(qū)、定點(diǎn)、線掃描、掃描旋轉(zhuǎn)、傾斜補(bǔ)償

3.7.      電子束位移不小于15μm

4.   樣品室

4.1.      樣品室尺寸: 330mm(直徑)x 270mm(高)

4.2.      *大樣品尺寸: 200mm(直徑)

4.3.      樣品置換時間(抽真空時間):不大于 5分鐘

4.4.      附件接口:

在樣品室上提供不少于六個附件接口,可同時接X射線能譜、背散射電子探測器等。

4.5.      樣品臺

類型:5軸馬達(dá)驅(qū)動

裝配方式:抽屜式拉門。

控制:雙操縱桿控制盒

移動范圍: X:125mm  Y:125mm   Z:50mm   T:0°~+90°

R:360°連續(xù)可調(diào)

   5.   探測器

5.1.      探測器類型

鏡筒內(nèi)(In-lens)二次電子探測器

樣品室二次電子探測器

背散射電子探測器

CCD 攝像機(jī)

5.2.      控制

自動對比度/亮度       手動對比度/亮度

6.   信號選擇

二次電子信號、背散射電子信號等,任何二個通道信號都可進(jìn)行混合,以獲取更佳的圖像效果。

7.   圖像顯示

7.1.      存儲分辨率:不小于 3k x 2k像素

7.2.      顯示分辨率:1024 x 768像素

7.3.      降噪處理:像素平均、連續(xù)平均、幀和行疊加

7.4.      具有數(shù)據(jù)區(qū)、狀態(tài)顯示、圖像注釋和測量功能

7.5.      可在Windows支持的外部設(shè)備上存儲及打印圖像

8.   顯示器:19" 液晶顯示器

9.   計(jì)算機(jī)環(huán)境(*低配置)

9.1.      中央處理器:CPU:Intel P4 3.2GHz。內(nèi)存:512MB

9.2.      操作系統(tǒng):Microsoft Windows XP

9.3.      外界接口:串行、并行、SCSI、USB 2.0接口、網(wǎng)絡(luò)。

9.4.      磁盤驅(qū)動器:  硬盤:*小 120 GB;CD刻錄機(jī)。

9.5.      電鏡控制操作軟件。

10. 真空系統(tǒng):

全自動控制

樣品室極限真空度:優(yōu)于2.0×10-4Pa


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